文档类型

文章

出版日期

2011年

出版来源

国际期刊的电化学

卷号

2011年

第一页

604395年

出版商

SAGE-Hindawi

石头

2090 - 3529

文摘

电镀镍铁薄膜的元素组成进行了分析与粒子诱导x射线发射(PIXE)。薄膜镀层在多晶盟从100 mm你基质410毫米FeSO4,0.5 H33,1 m Na2所以4解决方案。PIXE谱分析了这些电影获得相对大量的镍和铁沉积电位和沉积时间的函数。结果表明,这个可以测量样品中总熔敷金属在至少四个数量级类似部分不确定性。这项技术也足够敏感观察合金成分的变化由于样本不均匀或沉积参数的变化。

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